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Semi-conducteurs & ATE

Application : ATE pour semi-conducteurs

Relais reed pour équipements de test ATE et ICT pour semi-conducteurs

Les systèmes de test de semi-conducteurs nécessitent une commutation dense et répétable avec une faible fuite, un comportement de contact stable et des parasites contrôlés pour le tri wafer, le test de boîtiers, l'ICT et la caractérisation des dispositifs.

Sonde waferTest paramétriqueCommutation de cartes de chargeMatrice à faibles fuites

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Reed relay module product image for semiconductor ATE switching matrix

À quoi sert ce composant

Matrices de commutation denses

Les relais reed peuvent router de nombreuses voies d’instruments dans une architecture compacte de carte de charge, de carte à pointes ou de matrice de commutation.

Répétabilité des mesures

De faibles fuites, une résistance d’isolement élevée et un comportement de contact stable aident à protéger les mesures de faible courant et de haute impédance.

Conception à maintenance rapide

Les bancs de relais modulaires simplifient la maintenance des montages et prennent en charge plusieurs familles de DUT.

Détails d'application

Tri de plaquettes et test paramétrique

Routez les voies SMU, DMM, LCR ou de contrainte haute tension vers les broches sélectionnées tout en gardant les nœuds sensibles.

Test ICT et fonctionnel

Commuter les nœuds de test, les conditions aux limites et les lignes de stimulus dans les montages de production.

Montages de burn-in et de fiabilité

Prendre en charge la sélection contrôlée de canaux pour les équipements de contrainte, de surveillance et de validation.

Caractérisation de dispositifs

Utilisez des matrices de relais pour comparer les dispositifs, isoler les voies et automatiser les mesures répétitives.

Facteurs de sélection que les ingénieurs doivent confirmer

  • Courant de fuite et résistance d'isolement sous humidité et contamination.
  • FEM thermique et résistance de contact pour les mesures de bas niveau.
  • Capacité et bande passante lors de la commutation de signaux RF ou numériques rapides.
  • Commande de bobine, interaction magnétique et densité de relais sur la carte.
  • Opérations attendues, conditions de commutation à chaud et stratégie de maintenance.
Note d'ingénierie : Pour les pages ATE, les valeurs exactes des relais doivent rester liées aux fiches techniques des produits spécifiques ; la page d'application doit expliquer la logique de sélection plutôt que de revendiquer des performances universelles.

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Envoyez la tension, le courant, le type de charge, la tension de bobine, les contraintes de boîtier et l'application cible. SHR AUTOSENSOR peut recommander une série standard ou une voie de conception sur mesure.

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