Matrices de commutation denses
Les relais reed peuvent router de nombreuses voies d’instruments dans une architecture compacte de carte de charge, de carte à pointes ou de matrice de commutation.
Les systèmes de test de semi-conducteurs nécessitent une commutation dense et répétable avec une faible fuite, un comportement de contact stable et des parasites contrôlés pour le tri wafer, le test de boîtiers, l'ICT et la caractérisation des dispositifs.

Les relais reed peuvent router de nombreuses voies d’instruments dans une architecture compacte de carte de charge, de carte à pointes ou de matrice de commutation.
De faibles fuites, une résistance d’isolement élevée et un comportement de contact stable aident à protéger les mesures de faible courant et de haute impédance.
Les bancs de relais modulaires simplifient la maintenance des montages et prennent en charge plusieurs familles de DUT.
Routez les voies SMU, DMM, LCR ou de contrainte haute tension vers les broches sélectionnées tout en gardant les nœuds sensibles.
Commuter les nœuds de test, les conditions aux limites et les lignes de stimulus dans les montages de production.
Prendre en charge la sélection contrôlée de canaux pour les équipements de contrainte, de surveillance et de validation.
Utilisez des matrices de relais pour comparer les dispositifs, isoler les voies et automatiser les mesures répétitives.
Envoyez la tension, le courant, le type de charge, la tension de bobine, les contraintes de boîtier et l'application cible. SHR AUTOSENSOR peut recommander une série standard ou une voie de conception sur mesure.
Partagez vos exigences de tension, de courant, d’encombrement et de cycle de vie. Notre équipe d’ingénierie recommandera la solution optimale.